Thư Viện Trường ĐH XÂY DỰNG HÀ NỘI

DDC	621.395
Tác giả CN	Bushnell, Michael L.
Nhan đề	Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits / Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal.
Thông tin xuất bản	Boston :Kluwer Academic,2000.
Mô tả vật lý	xviii, 690 pages ;cm.
Tóm tắt	Trình bày về công nghệ thiết bị bán dẫn, thiết kế mạch và kiểm thử điện tử. Bao gồm các hệ thống con kỹ thuật số, bộ nhớ và tín hiệu hỗn hợp. Đây là ấn bản cho một khóa học “nền tảng” về kiểm thử điện tử dành cho sinh viên đại học. Nhóm đầu tiên bao gồm các kỹ sư, sau khi tốt nghiệp, tham gia vào bất kỳ loại dự án thiết kế, thử nghiệm hoặc sản xuất phần cứng điện tử nào. Phần I và III nhấn mạnh nhu cầu của một dự án định hướng thiết kế và Phần I và II nhấn mạnh nhu cầu của một dự án định hướng thử nghiệm. Nhóm thứ hai bao gồm sinh viên của một khóa học thiết kế VLSI chưa học khóa học về thử nghiệm. Phần I và III tập trung vào nhu cầu của họ. Nhóm thứ ba, bao gồm sinh viên sau đại học và nghiên cứu sinh, sẽ tìm thấy một nội dung bao quát đầy đủ các chủ đề với các liên kết đến tài liệu tham khảo trong trường hợp tài liệu nâng cao bị lược bỏ do thiếu không gian.
Thuật ngữ chủ đề	Mạch tích hợp kỹ thuật số-Đang thử nghiệm.
Thuật ngữ chủ đề	Mạch tích hợp-Tích hợp quy mô rất lớn-Đang thử nghiệm.
Thuật ngữ chủ đề	Mạch tín hiệu hỗn hợp-Đang thử nghiệm.
Thuật ngữ chủ đề	Thiết bị lưu trữ bán dẫn-Đang thử nghiệm.
Tác giả(bs) CN	Agrawal, Vishwani D.


000	01782cam a22003854a 4500
001	60297
002	131
004	704D3724-A2B1-4458-8A30-22B3D80A24B2
005	202601220931
008	000829s2000 maua b 001 0 eng
009	1 0
039	\|y20260122093120\|zthuydh
082	00\|a621.395\|bBUS
100	1 \|aBushnell, Michael L.
245	10\|aEssentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits /\|cMichael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal.
260	\|aBoston :\|bKluwer Academic,\|c2000.
300	\|axviii, 690 pages ;\|ccm.
520	\|aTrình bày về công nghệ thiết bị bán dẫn, thiết kế mạch và kiểm thử điện tử. Bao gồm các hệ thống con kỹ thuật số, bộ nhớ và tín hiệu hỗn hợp. Đây là ấn bản cho một khóa học “nền tảng” về kiểm thử điện tử dành cho sinh viên đại học. Nhóm đầu tiên bao gồm các kỹ sư, sau khi tốt nghiệp, tham gia vào bất kỳ loại dự án thiết kế, thử nghiệm hoặc sản xuất phần cứng điện tử nào. Phần I và III nhấn mạnh nhu cầu của một dự án định hướng thiết kế và Phần I và II nhấn mạnh nhu cầu của một dự án định hướng thử nghiệm. Nhóm thứ hai bao gồm sinh viên của một khóa học thiết kế VLSI chưa học khóa học về thử nghiệm. Phần I và III tập trung vào nhu cầu của họ. Nhóm thứ ba, bao gồm sinh viên sau đại học và nghiên cứu sinh, sẽ tìm thấy một nội dung bao quát đầy đủ các chủ đề với các liên kết đến tài liệu tham khảo trong trường hợp tài liệu nâng cao bị lược bỏ do thiếu không gian.
650	0\|aMạch tích hợp kỹ thuật số\|xĐang thử nghiệm.
650	0\|aMạch tích hợp\|xTích hợp quy mô rất lớn\|xĐang thử nghiệm.
650	0\|aMạch tín hiệu hỗn hợp\|xĐang thử nghiệm.
650	0\|aThiết bị lưu trữ bán dẫn\|xĐang thử nghiệm.
700	1 \|aAgrawal, Vishwani D.
856	1\|uhttps://thuvien.huce.edu.vn/kiposdata2/anhbiadaidien/hoclieumo/sachthamkhao/tháng 1.2026/essentials of electronic testing_thumbimage.png
890	\|a0\|b0\|c1\|d0

Không tìm thấy biểu ghi nào

Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits / Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal.