DDC 621.3815/2
Tác giả CN Gupta, Dinesh C.
Nhan đề Recombination lifetime measurements in silicon / Dinesh C. Gupta, Fred R. Bacher, and William M. Hughes, editors.
Thông tin xuất bản West Conshohocken, PA :ASTM,1998.
Mô tả vật lý 392 p. :ill. ;24 cm.
Thuật ngữ chủ đề Electronic measurements-Congresses.
Thuật ngữ chủ đề Semiconductors-Testing-Congresses.
Thuật ngữ chủ đề Service life (Engineering)-Forecasting-Congresses.
Tác giả(bs) CN Bacher, Fred R.,
Tác giả(bs) CN Hughes, William M.,
Địa chỉ TVXDKho Ngoại văn - Phòng đọc mở tầng 3(1): NV01139
00001401nam a2200325 a 4500
00145995
00222
004F1E1B42F-089F-43D5-B503-15E69665E370
005202104191016
008980513s1998 paua b 101 0 eng
0091 0
020 |a0803124899
039|a20210419101646|bcuonglv|y20210416083951|zthuydh
08200|a621.3815/2|bGUP|221
1001|aGupta, Dinesh C.
24500|aRecombination lifetime measurements in silicon /|cDinesh C. Gupta, Fred R. Bacher, and William M. Hughes, editors.
260 |aWest Conshohocken, PA :|bASTM,|c1998.
300 |a392 p. :|bill. ;|c24 cm.
504 |aIncludes bibliographical references and indexes.
650 0|aElectronic measurements|xCongresses.
650 0|aSemiconductors|xTesting|xCongresses.
650 0|aService life (Engineering)|xForecasting|xCongresses.
7001 |aBacher, Fred R.,|d1955-
7001 |aHughes, William M.,|d1948-
852|aTVXD|bKho Ngoại văn - Phòng đọc mở tầng 3|j(1): NV01139
8561|uhttps://thuvien.huce.edu.vn/kiposdata1/anhbia/sachngoaivan/a_thuy/19-04/01/anoidung_01thumbimage.jpg
890|a1|b0|c0|d0
Dòng Mã vạch Nơi lưu S.gọi Cục bộ Phân loại Bản sao Tình trạng Thành phần Đặt mượn tài liệu
1 NV01139 Kho Ngoại văn - Phòng đọc mở tầng 3 621.3815/2 GUP Sách Ngoại Văn 1

Không có liên kết tài liệu số nào
Copyrights © Thư Viện Trường ĐH XÂY DỰNG HÀ NỘI