DDC 629.8
Tác giả CN Luo, Hao
Nhan đề Process monitoring, fault diagnosis, and tolerant control for complex industrial systems : a festschrift in honor of Professor Steven X. Ding on the occasion of his retirement / Hao Luo, Zhiwen Chen, Linlin Li
Thông tin xuất bản Singapore :Springer,2026
Mô tả vật lý 757 pages ;cm.
Tóm tắt Tập kỷ yếu tri ân Giáo sư Steven X. Ding nhân dịp ông nghỉ hưu, tổng hợp các công trình nghiên cứu hiện đại về giám sát quá trình, chẩn đoán lỗi và điều khiển chịu lỗi trong các hệ thống công nghiệp phức tạp. Các chủ đề chính bao gồm kỹ thuật chẩn đoán lỗi dựa trên mô hình (không gian Krein, bộ quan sát Neuro-Fuzzy), an ninh mạng cho hệ thống vật lý-không gian mạng (CPS), điều khiển chịu lỗi tối ưu (tối ưu hóa Bayesian, điều khiển biến đổi DC-DC, hệ đa tác tử) và các phương pháp chẩn đoán lỗi dựa trên dữ liệu (học sâu, học chuyển giao, RVM, CCA, dự đoán tuổi thọ còn lại RUL).
Thuật ngữ chủ đề Điều khiển tự động-Độ tin cậy
Thuật ngữ chủ đề Hệ thống điều khiển chịu lỗi
Thuật ngữ chủ đề Xác định vị trí sự cố (Kỹ thuật)
Tác giả(bs) CN Chen, Zhiwen
Tác giả(bs) CN Li, Linlin
Địa chỉ TVXD
00000000nam#a2200000u##4500
00162610
002131
004F55BB437-C3A8-4DD3-A236-EC957C6295B0
005202610081352
008261008s2026 vm eng
0091 0
039|y20261008135204|zthuydh
082 |a629.8|bLUO
100 |aLuo, Hao
245 |aProcess monitoring, fault diagnosis, and tolerant control for complex industrial systems :|ba festschrift in honor of Professor Steven X. Ding on the occasion of his retirement /|cHao Luo, Zhiwen Chen, Linlin Li
260 |aSingapore :|bSpringer,|c2026
300 |a757 pages ;|ccm.
520 |aTập kỷ yếu tri ân Giáo sư Steven X. Ding nhân dịp ông nghỉ hưu, tổng hợp các công trình nghiên cứu hiện đại về giám sát quá trình, chẩn đoán lỗi và điều khiển chịu lỗi trong các hệ thống công nghiệp phức tạp. Các chủ đề chính bao gồm kỹ thuật chẩn đoán lỗi dựa trên mô hình (không gian Krein, bộ quan sát Neuro-Fuzzy), an ninh mạng cho hệ thống vật lý-không gian mạng (CPS), điều khiển chịu lỗi tối ưu (tối ưu hóa Bayesian, điều khiển biến đổi DC-DC, hệ đa tác tử) và các phương pháp chẩn đoán lỗi dựa trên dữ liệu (học sâu, học chuyển giao, RVM, CCA, dự đoán tuổi thọ còn lại RUL).
650|aĐiều khiển tự động|xĐộ tin cậy
650|aHệ thống điều khiển chịu lỗi
650|aXác định vị trí sự cố (Kỹ thuật)
700 |aChen, Zhiwen
700 |aLi, Linlin
852 |aTVXD
8561|uhttps://thuvien.huce.edu.vn/kiposdata2/anhbiadaidien/hoclieumo/sachthamkhao/tháng 10.2026/process monitoring_thumbimage.png
890|a0|b0|c1|d0
Không tìm thấy biểu ghi nào