Dòng Nội dung
1
Recombination lifetime measurements in silicon / Dinesh C. Gupta, Fred R. Bacher, and William M. Hughes, editors.

West Conshohocken, PA : ASTM, 1998.
392 p. : ill. ; 24 cm.


 Đầu mục:1 (Lượt lưu thông:0) Tài liệu số:0 (Lượt truy cập:0)

Copyrights © Thư Viện Trường ĐH XÂY DỰNG HÀ NỘI