TRA CỨU
Dòng Nội dung
1
Fatigue of electronic materials / Scott A. Schroeder and M.R. Mitchell, editors.

Philadelphia, PA : ASTM, 1994.
viii, 146 p. : ill. ; 23 cm.


 Đầu mục:1 (Lượt lưu thông:0) Tài liệu số:0 (Lượt truy cập:0)